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第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
首页 产品中心 電晶體測試 功率器件測試系統
分类
 
QT-4100 綜合測試系統

適用於三極管、二極體、齊納二極體、MOS-FET(IGBT、SIC 氮化鎵)、J-FET、Current Sense FET、LDO(78XX、79XX、TL431、TL432常規測試)、光電耦合器等產品及晶 圓。 可擴充:可控矽測試、SCANBOX、Dual Gate-FET、Q Plus 、三極管開關時間(TST, TR ,TF, TON)、熱阻測試(DVDS, DVCE, DVBE,DVF)等



限壓限流

高精度Rdon測試

模組化功能

多站資料合併

型號 QT-4100 綜合測試系統
產品優勢 测量防呆:电压、电流测量自动自检,异常自动报警停机測量防呆:電壓、電流測量自動自我檢測,異常自動警報停機
LOW RDON
快速自我檢測:無需外接負載,2分鐘完成自我檢測
第三人校準:採用Agilent 34401A進行校準
內建示波器功能
支援多工位設備數據合併
主要特點 ? 繼電器3ms;
? 限壓限流保護;
? 支援擴展EAS,LCR,熱阻,SW,TRR,QG;
? 填表式程式設計;
? 支援PAT功能;
? 具備SECS/GEM標準介面


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